Ultra-sensitive radon assay using an electrostatic chamber in a recirculating system

  • A. Anker
  • , P. A. Breur
  • , B. Mong
  • , P. Acharya
  • , A. Amy
  • , E. Angelico
  • , I. J. Arnquist
  • , A. Atencio
  • , J. Bane
  • , V. Belov
  • , E. P. Bernard
  • , T. Bhatta
  • , A. Bolotnikov
  • , J. Breslin
  • , J. P. Brodsky
  • , S. Bron
  • , E. Brown
  • , T. Brunner
  • , B. Burnell
  • , E. Caden
    • L. Q. Cao, G. F. Cao, D. Cesmecioglu, D. Chernyak, M. Chiu, R. Collister, T. Daniels, L. Darroch, R. DeVoe, M. L. di Vacri, Y. Y. Ding, M. J. Dolinski, A. Dragone, B. Eckert, M. Elbeltagi, A. Emara, W. Fairbank, N. Fatemighomi, B. Foust, Y. S. Fu, D. Gallacher, N. Gallice, G. Giacomini, W. Gillis, A. Gorham, R. Gornea, G. Gratta, Y. D. Guan, C. A. Hardy, S. Hedges, M. Heffner, E. Hein, J. D. Holt, A. Iverson, X. S. Jiang, A. Karelin, D. Keblbeck, I. Kotov, A. Kuchenkov, K. S. Kumar, A. Larson, M. B. Latif, K. G. Leach, B. G. Lenardo, A. Lennarz, D. S. Leonard, K. Leung, H. Lewis, G. Li, X. Li, Z. Li, C. Licciardi, R. Lindsay, R. MacLellan, S. Majidi, C. Malbrunot, M. Marquis, J. Masbou, M. Medina-Peregrina, S. Mngonyama, D. C. Moore, X. E. Ngwadla, K. Ni, A. Nolan, S. C. Nowicki, J. C. Nzobadila Ondze, A. Odian, J. L. Orrell, G. S. Ortega, C. T. Overman, L. Pagani, H. Peltz Smalley, A. Perna, A. Piepke, A. Pocar, V. Radeka, E. Raguzin, R. Rai, H. Rasiwala, D. Ray, S. Rescia, F. Retière, G. Richardson, N. Rocco, R. Ross, P. C. Rowson, R. Saldanha, S. Sangiorgio, S. Sekula, T. Shetty, L. Si, F. Spadoni, V. Stekhanov, X. L. Sun, S. Thibado, T. Totev, S. Triambak, R. H.M. Tsang, O. A. Tyuka, E. van Bruggen, M. Vidal, S. Viel, M. Walent, H. Wang, Q. D. Wang, Y. G. Wang, M. Watts, M. Wehrfritz, W. Wei, L. J. Wen, U. Wichoski, S. Wilde, M. Worcester, X. M. Wu, H. Xu, H. B. Yang, L. Yang, M. Yu, O. Zeldovich, J. Zhao

Research output: Contribution to journal › Article › peer-review

Fingerprint

Dive into the research topics of 'Ultra-sensitive radon assay using an electrostatic chamber in a recirculating system'. Together they form a unique fingerprint.

Keyphrases

Engineering

Physics